Товары по каталогам

Название:	V62/04729-01XE
Производитель:	Texas Instruments
Документация:	скачать
Описание:	Специальные функциональные логические элементы Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices

Характеристики:

Рабочее напряжение питания	3.3 V
Корпус	LQFP-64
Упаковка	Reel
Вид монтажа	SMD/SMT
Диапазон рабочих температур	+ 85 C
Размер фабричной упаковки	1000